膜厚儀能同時測量磁性基材表面的非磁性涂鍍層，以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂鍍層。本儀表內(nèi)置高精密雙探頭，利用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。
同時，測量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時顯示統(tǒng)計值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn)，讓您非常方便的隨時進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您非常容易的使用它。
膜厚儀的特點(diǎn)：
A.大點(diǎn)陣液晶屏，標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作；
B.兩種測量模式：單次和連續(xù)；
C.兩種組模式：直接組和通用組,一個直接組和四個通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動保存，關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲80個數(shù)據(jù)；
D.可零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)。各組有單獨(dú)的零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)，組與組之間不影響；
E.用戶可隨時查看當(dāng)前工作組已測得的數(shù)據(jù)，并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù)；
F.實(shí)時顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計值：平均值,較小值，Max值,標(biāo)準(zhǔn)方差；
G.三種探頭模式：自動、磁感應(yīng)和渦流；
H.可為各組單獨(dú)設(shè)置高低限報警值，超*屏幕指示報警；
I.可開啟或關(guān)閉自動關(guān)機(jī)功能；
J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計算機(jī)；
K.低電和錯誤提示。
膜厚儀可以測量較大5層重疊薄膜的厚度和折射率。
可測量如氧化物，氮化物，光阻，導(dǎo)電玻璃，聚合物和半導(dǎo)體薄膜等透明或半透明薄膜。
