2019年10月23-26日，第十八屆北京分析測(cè)試學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)暨展覽會(huì)“BCEIA2019”將在北京·國(guó)家會(huì)議中心隆重開幕，展出國(guó)內(nèi)外500余家參展企業(yè)帶來的數(shù)千項(xiàng)新的產(chǎn)品和技術(shù)，如儀器設(shè)備、試劑、軟件和分析測(cè)試服務(wù)等；同時(shí)，作為BCEIA重要組成部分的學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)將繼續(xù)組織國(guó)內(nèi)外科學(xué)家參加大會(huì)報(bào)告、10個(gè)分會(huì)報(bào)告（電子顯微鏡與材料科學(xué)、質(zhì)譜學(xué)、光譜學(xué)、色譜學(xué)、磁共振波譜學(xué)、電分析化學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境分析、化學(xué)計(jì)量與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)記免疫分析）、專題論壇、墻報(bào)、同期會(huì)議，面向世界科技前沿，圍繞新原理、新方法、新技術(shù)等多個(gè)方面進(jìn)行研討和展望。
 
我司將參加 北京分析測(cè)試學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)暨展覽會(huì) 
我們誠(chéng)邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀！
 
廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
展區(qū)： 北京·國(guó)家會(huì)議中心E5館
展位號(hào)：5E013  

參展產(chǎn)品：
自動(dòng)型接觸角測(cè)量?jī)xDSA-X Plus
DSA-X Plus 光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x由貝拓科學(xué)自主研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)，配置先進(jìn)的高分辨高速工業(yè)相機(jī)搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進(jìn)行計(jì)算擬合獲得準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù)。儀器機(jī)構(gòu)結(jié)合了人體工程學(xué)，提供人性化的自動(dòng)化進(jìn)樣調(diào)節(jié)、樣品臺(tái)調(diào)節(jié)、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)節(jié)等，使測(cè)試變得而快速。  
 
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。

透反射率測(cè)量?jī)xRT100
RT100透反射率測(cè)量?jī)x支持透過率和反射率測(cè)量，給出光譜曲線，可用于測(cè)試樣品的紫外到近紅外波段（寬可達(dá)200-2500nm）的透過率及反射率。采用一體式設(shè)計(jì)，樣品倉(cāng)可以*閉合，把外界光的影響減到低。軟件簡(jiǎn)單易用，自動(dòng)判斷測(cè)量結(jié)果是否合格。
RT100廣泛地用于光學(xué)玻璃、薄膜、顯示、觸摸屏、手機(jī)蓋板等行業(yè)。配備積分球，可用于具有毛糙表面的樣品反射光譜和透射光譜測(cè)試，如聚光玻璃、毛玻璃等。 

誠(chéng)邀您的光臨！

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