XD6型多晶X射線衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)，測(cè)角儀掃描半徑可在150～285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。該功能使得用戶可以在儀器測(cè)角分辨率和測(cè)試衍射線強(qiáng)度之間進(jìn)行均衡選擇，自行設(shè)定需要的試驗(yàn)條件，滿足不同情況試驗(yàn)需求。為了提高實(shí)驗(yàn)效率，XD6提高了快速轉(zhuǎn)動(dòng)速度，達(dá)到1800°/min。

• 結(jié)構(gòu)新，采用*進(jìn)的立式測(cè)角儀結(jié)構(gòu)，更加方便的樣品放置方式，對(duì)于操作、維護(hù)的工作力度大為簡(jiǎn)化，更加直觀的使用，便于清理實(shí)驗(yàn)后的樣品臺(tái)。

• 采用細(xì)分驅(qū)動(dòng)電源技術(shù)，精度高，重現(xiàn)性達(dá)到0.0005°、測(cè)量重復(fù)性0.001°、最小步進(jìn)角度0.0001°,掃描半徑連續(xù)可調(diào)；

• 進(jìn)口NaI閃爍晶體計(jì)數(shù)探測(cè)器，分辨率及長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性好；

• X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護(hù)性更好；采用了轉(zhuǎn)輪式快門，開關(guān)速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機(jī)柜外輻射劑量低于0.2μSv/h（國(guó)標(biāo)規(guī)定要求低于2.5μSv/h）；

• X射線光源的數(shù)字控制電路作了進(jìn)一步的改善，X光機(jī)的工作功率*由計(jì)算機(jī)遙控設(shè)定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動(dòng)操作，使用更加簡(jiǎn)單，運(yùn)行更加可靠；

• 中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數(shù)據(jù)處理軟件包。在數(shù)據(jù)輸出多樣性方面作了重大改進(jìn)。

配置名稱

XD6

X射線管

（Cu靶國(guó)產(chǎn)）

種類

Cu靶，NF型（其它靶材可選）

功率

2.0kW

焦點(diǎn)

1.0×10mm²

X射線發(fā)生器

最大輸出

4KW

X光管電壓

15~60kV，1kV /Step

X光管電流

6~80mA，1mA /Step

管電壓、管電流穩(wěn)定度

≤0.01％（電源低壓浮動(dòng)10％）

測(cè)角儀

測(cè)角儀結(jié)構(gòu)

θs－2θd(XD2)  θs－θd(XD3)

測(cè)角儀掃描半徑

150～285mm連續(xù)可調(diào)

掃描角度范圍

-30~80°（θs）

-30～160°（θd）

工作方式

連續(xù)掃描、定時(shí)步進(jìn)掃描、定數(shù)步進(jìn)掃描

連續(xù)掃描速度

0.125～120°/min

高轉(zhuǎn)速可達(dá)到

1800°/min

2θ角重復(fù)精度

≤0.0005°

最小步進(jìn)角度

0.0001°

測(cè)量準(zhǔn)確度

≤0.001°

發(fā)散狹縫（DS）

1/6°、1/2°、1°、2°

防散射狹縫(SS)

1/2°、1°、2°

接收狹縫(RS)

0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm

調(diào)整狹縫

0.02mm

檢測(cè)器

計(jì)數(shù)器

晶體類型

NaI

脈沖幅度分析器（HV/PHA）

輸出高壓0～1000V，穩(wěn)定性≤0.01％（8h）

機(jī)柜

機(jī)柜尺寸（mm）

1200（長(zhǎng)）×400（寬）×1850（高）

整機(jī)重量（kg）

500

觀察窗（mm）

600（高）×400（寬）×10（厚）鉛玻璃

X射線泄露量

≤0.1μSv/h（未扣除天然本底）

安全措施

門聯(lián)鎖保護(hù)（門到位置，光閘才打開，產(chǎn)生X射線）

濾波器

Ni濾片

對(duì)應(yīng)Cu靶

石墨彎晶單色器

反射效率η≥28％

綜合指標(biāo)

整機(jī)綜合穩(wěn)定度

≤0.3％